中文摘要: 为了降低CMOS图像传感器的噪声水平，本文提出了一种基于自适应相关多采样技术的单斜ADC，可以根据光强自动选择合适的斜坡信号完成A/D转换。通过在低照度下使用小范围、高增益的斜坡信号进行多采样操作，可以充分降低读出噪声。多斜坡发生器由温度计码电容型DAC实现，此外还分析并校准了斜坡信号的失调电压和增益误差。提出的单斜ADC是在标准的110 nm 1P4M工艺下设计仿真的。仿真结果表明：基于自适应相关多采样技术的单斜ADC不会增加总A/D转换时间，同时在8倍的前置放大器增益下实现了最低59 μVrms的读出噪声。此外当前置放大器为2倍增益时，读出噪声从强光下的211 μVrms降低到弱光下的92 μVrms，噪声的降低对应于7.21 dB信噪比的提高。另外，本文的品质因数为3.77 nVrms·s。