中文摘要: 针对CMOS图像传感器中传统的列级单斜式ADC在速度方面的不足和两步式ADC在斜坡间切换过程中的非线性问题,论文提出了一种基于时间共享与单区间的高速高精度列并行两步式斜坡ADC架构。采用像素电荷转移阶段的电位识别,实现了不消耗时间的粗量化；采用单区间高精度量化,解决了多斜坡之间的无缝衔接问题。所提出的方法在一款基于55nm 1P4M工艺的2048×2048规模的CMOS图像传感器芯片中进行了有效性验证,结果表明,在12位分辨率下,该方法相较于传统的两步式结构,行时间可以压缩到500ns,DNL和INL都可以控制到0.12LSB以内,单列功耗仅为16.5μW。